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·508·                             精细化工   FINE CHEMICALS                                  第 36 卷

            径分析;热重分析(TG-DTG-DSC 分析)在高纯氮
            气(体积分数 99.99%)下,进气流量为 50  mL/min,
            从室温以 10 ℃/min 程序升温至 800 ℃。

            2    结果与讨论

            2.1   结构表征
                 Bent、CTMAB/Bent 和 CPAM/Bent 的 XRD 谱
            图如图 1 所示。

                                                                图 2  Bent、CTMAB/Bent 和 CPAM/Bent 的 FTIR 谱图
                                                               Fig. 2    FTIR spectra of Bent, CTMAB/Bent and CPAM/Bent

                                                                   从图 2 可知,插层改性 Bent 的主要吸收峰位置
                                                                                            –1
                                                               与 Bent 基本一致,其中 3626  cm 处属于蒙脱石结
                                                                                          –1
                                                               构内羟基伸缩振动峰、3445 cm 处为层间吸附水的
                                                                                       –1
                                                               羟基伸缩振动峰、1472 cm 处为 C—H 弯曲振动吸
                                                                           –1
                                                               收峰、1090 cm 附近为 Si—O 伸缩振动峰、1040 cm           –1
                                                                                                         –1
                                                               附近为 Si—O—Si 不对称伸缩振动峰、912  cm 处

                                                                                           –1
                                                               为 Al—OH 弯曲振动峰、795 cm 处对应为 O—H 弯
             图 1  Bent、CTMAB/Bent 和 CPAM/Bent 的 XRD 谱图                         –1
             Fig. 1    XRD patterns of Bent, CTMAB/Bent and CPAM/Bent   曲振动峰、519 cm 处为 Si—O—Mg 弯曲振动峰以
                                                                        –1
                                                               及 465 cm 处的 Si—O—Fe 弯曲振动峰,说明了有
                 从图 1 可以看出,Bent 在插层改性前后均在                      机插层改 性不会影 响 Bent 的 骨架结构                  [20]  。
            2θ=26左右有一个最强的衍射峰,此处峰应为 Bent                       CTMAB/Bent 在 2918、2851 cm 处新出现的双峰分
                                                                                          –1
            的特征衍射峰,表明了插层改性 Bent 保留原 Bent                       别为—CH 2 —对称和反对称伸缩振动峰,1636  cm               –1
            的层状结构。由布拉格方程计算出层间距(d 001 ),
                                                               处有明显减弱层间吸附水羟基弯曲振动峰以及
            Bent 的衍射角 2θ=7.16,d 001=1.234  nm;CTMAB 插
                                                               719  cm –1  处新出现—(CH 2 ) n —的面内摇摆振动吸收
            层后,衍射角减小为 2θ=4.50,d 001 增大到 1.962 nm;
                                                               峰,表明了 CTMAB 有机阳离子插层进入 Bent 层间,
            CPAM 继续插层后,衍射角减小到 2θ=3.66,d 001
                                                               且使其疏水性变强。CPAM/Bent 与 CTMAB/Bent 相
            增大到 2.413  nm。这说明了利用 CTMAB 对 Bent                               –1                         –1
                                         +
            进行改性,可将 Bent 层间的 Na 置换出,增大了层                       比较,1636  cm 处吸收峰消失,在 1651  cm 处新
            间距,使分子直径更大的 CPAM 阳离子易于进入                           出现羰基的伸缩振动吸收峰,表明了 CPAM 阳离子
            Bent 的层板间,并与 CTMAB 阳离子发生离子交换,                      将 CTMAB 阳离子置换出,并进入 Bent 的层间。
            从而成功制备出 CPAM/Bent 复合材料。                            2.2   形貌和比表面积分析
                 为了进一步证实有机阳离子成功实现插层,对                              Bent、CTMAB/Bent 和 CPAM/Bent 的 FESEM
            各样品进行 FTIR 分析,如图 2 所示。                             如图 3 所示。













                                    图 3    Bent(a)、CTMAB/Bent(b)和 CPAM/Bent(c)的 FESEM 图
                                Fig. 3    FESEM images of Bent (a), CTMAB/Bent (b) and CPAM/Bent (c)

                 从图 3a 可见,Bent 呈现片状、层状结构,表面                    后的 Bent 虽仍为层状结构,但表面纳米颗粒变得不
            由均匀、粗糙的纳米颗粒堆积而成。图 3b~c 为有机                         均匀,更加粗糙。对样品进行 EDS 能谱分析,其元
            插层改性后样品的 FESEM 照片,可以发现,插层                          素组成及含量见表 1。
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