Page 121 - 《精细化工》2022年第3期
P. 121

第 3 期                  吕   斌,等: PDMS 改性蓖麻油基水性聚氨酯的制备及防污性能                                 ·543·


            1.3   结构表征与性能测试                                    的甲基。如图 1a 所示,在 δ=0 处为与 Si 原子相连
            1.3.1   结构表征                                       —CH 3 的化学位移,测试过程使用无 TMS 的 CDCl 3
                 1
                 HNMR 测试:以无内标四甲基硅烷(TMS)的                       作为溶剂,避免 TMS 在此处的出峰干扰。但对于分
            氘代氯仿(CDCl 3 )为溶剂。                                  子链两端甲氧基上氢的化学位移并不明显,可能是
                 FTIR 测试:将少量 PDMS 及 PDMS/CWPU-SOP8             由于长链 PDMS 分子成环,甲氧基被消耗导致其出
            涂抹在 KBr 片上,然后用吹风机吹干,将薄片放置                          峰减弱。图 1b 为 PDMS 的 FTIR 谱图。如图 1b 所
                                                                         –1
            在 FTIR 中进行测试。                                      示,2977 cm 处为与 Si 相连的甲基上 C—H 键的伸
                                                                             –1
                 TEM 测试:将乳液稀释 2000 倍后滴于铜网上,                    缩振动,1029 cm 处为—Si—O—Si—基团的伸缩振
            并使用质量分数为 1%的磷钨酸染色处理,通过                             动,这表明二甲基二甲氧基硅烷的甲氧基之间缩合
                                                                                            1
            TEM 观察乳胶粒形貌。                                       形成了—Si—O—Si—基团,结合 HNMR 结果可知,
                 SEM 测试:采用 SEM 对复合薄膜表面与截面                      PDMS 已经合成。
            的微观形貌进行观察以及能谱表征。薄膜在液氮中
            淬断处理得到截面。然后分别将表面和截面朝上,喷金
            处理后在电压为 3.0 kV 下,观察复合薄膜的微观形貌。
                 XPS 测试:采用 X 射线光电子能谱仪进行测试。
                                     –7
            其中,分析室真空度 1.3×l0  Pa,激发源采用 Al K a
            射线,测试前使用氩离子枪对样品进行刻蚀。
            1.3.2   性能测试
                 水接触角(WCA)测试:对薄膜亲疏水性以及
            水接触角进行测定。25  ℃下测试,每个薄膜水接触
            角测量 3 次,取其平均值。
                 耐水性能测试:按照文献[18]的方法,通过薄
            膜在水中浸泡后质量相对于初始质量的变化来计算
            吸水率。25  ℃下测试薄膜不同浸泡时间(0.5、1、2、
            4、8、12、16 h)的吸水率。吸水率按式(1)计算:
                        W  /%   (m   m  ) / m   100  (1)
                                 2   1   1
            式中:W 为吸水率,%;m 1 、m 2 分别为薄膜干质量、
            湿质量,g。
                 防污性能测试:按照文献[19]的方法,通过观

            察不同 pH 的液体在薄膜滚落过程是否留痕考察其
                                                                               1
            防污性能,测试过程中记录不同时间内液滴的滑动                                图 1  PDMS 的 HNMR(a)和 FTIR(b)谱图
                                                                         1
                                                                  Fig. 1    HNMR (a) and FTIR (b) spectra of PDMS
            距离长度评价其薄膜防污性能。其中中性液滴为水,
            酸性液滴为 pH 为 3 的 H 2 SO 4 溶液,碱性液滴为 pH                2.2  PDMS/CWPU-SOP8 的 FTIR 分析
            为 11 的 NaOH 溶液,液滴体积为 0.1 mL,薄膜倾                        图 2 为 CWPU-SOP、PDMS/CWPU-SOP8 的
            斜角度为 45°。                                          FTIR 谱图。如图 2 所示,对于 CWPU-SOP 来说,
                 机械性能测试:使用哑铃状模具对薄膜进行切                          3457 cm 处为氨基甲酸酯基团上 N—H 键的伸缩振
                                                                      –1
            割,得到宽度为 2.5 mm,长度为 4 cm 的测试样本。                     动吸收峰    [20] ,3039~2786 cm 处为 C—H 键伸缩振
                                                                                        –1
            测试过程中,两个夹具之间的标距长度为 25 mm,                          动峰,1670 cm 处为 C==O 键的伸缩振动峰,1040 cm          –1
                                                                           –1
            在室温下以 10 mm/min 的拉伸速度对膜样品进行测                       处为 C—O 键的伸缩振动,1234 cm             –1  处为—C—
            量,得到拉伸强度以及断裂伸长率。平均测量 3 次                           S—C—基团的伸缩振动。在 PDMS/CWPU-SOP8 的
            取其平均值。                                             FTIR 谱图中,1021 cm 处为 PDMS 中—Si—O—Si—
                                                                                  –1
                                                               基团的伸缩振动。与 CWPU-SOP 相比,PDMS/
            2   结果与讨论
                                                               CWPU-SOP8 的 N—H 键波数由 3457 cm             –1  向
            2.1  PDMS 的表征                                      3316 cm –1  低波数方向移动;—Si—O—Si—基团由
                                                                                  –1
                                                                      –1
                                  1
                 图 1a 为 PDMS 的 HNMR 谱图。由 PDMS 分                1029 cm 向 1021 cm 低波数方向移动,这是由于
            子结构式可知,其分子链中存在大量与 Si 原子相连                          氨基甲酸酯基团中与 N 相连的 H 原子能够与
   116   117   118   119   120   121   122   123   124   125   126