Page 120 - 《精细化工》2020年第7期
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·1402·                            精细化工   FINE CHEMICALS                                 第 37 卷


            别记为 Ag/AgCl/CeO 2 (x),x=1、2、4,表示 AgNO 3
            加入量分别为 1 mmol(0.17 g)、2 mmol(0.34 g)、
            4 mmol(0.68 g)。
            1.3   结构表征与性能测试
            1.3.1   表征
                 XRD:靶材为 Cu,K α ,λ=1.54178 nm,工作电
            压 40 kV,管电流 40mA,扫描范围为 5°~90°,扫描
            速度为 10(°)/min,连续扫描方式,小角度扫描范围
            为 0.5°~8.0°;N 2 吸附-脱附:液氮温度 77 K;SEM
            及 EDS:加速电压 15 kV、工作距离 WD=4 mm;
            TEM:加速电压 200 kV;UV-Vis DRS:扫描波长范
            围 200~800 nm;利用紫外-可见近红外分光光度计
            测定样品吸收波长范围及吸收强度。
            1.3.2  photo-CWPO 催化性能
                 本实验废水样品为丙烯腈实际生产废水,其水
            质有机污染物组成复杂,因此,采用 COD 值作为评
            价指标,并以 COD 去除率表示 photo-CWPO 体系对
            有机污染物的催化降解率。将 100 mL 稀释为 500
            mg/L 的丙烯腈废水、200 mg 制备的催化剂和 8 mL
            H 2 O 2 (质量分数 30%)放入圆底烧瓶中,水浴温度

            40  ℃,黑暗中充分搅拌分散 30 min 后,在高压钠                                 a—小角衍射图;b—广角衍射图

            灯辐照下进行 CWPO 反应 60 min,离心分离混合物。                                图 1   不同样品的 XRD 谱图
            取清液测定 COD 浓度,并计算 COD 的去除率。根                              Fig. 1    XRD patterns of different samples

            据标准 HJ/T399—2007,COD 浓度采用快速消解分                     2.1.2  N 2 吸附-脱附表征
            光光度法测定。COD 去除率计算公式如下所示。                                图 2 为所制备样品的 N 2 吸附-脱附等温线。制
                            η/%=[(ρ 0 –ρ)/ρ 0 ]×100   (1)      备的 CeO 2 和 Ag/AgCl/CeO 2 (x)的 N 2 吸附-脱附等温
            式中:η 为 COD 去除率(%);ρ 0 为初始 COD 质量                   线属于Ⅳ型等温线,是典型的笼状结构特征,说明
            浓度(mg/L);ρ 为催化反应后溶液中 COD 的质量                       负载后的样品具有介孔结构。在 p/p 0 为 0.6~0.9 等温
            浓度(mg/L)。                                          线出现 1 个明显的 H2 型迟滞环,说明成功将 Ag 和
                                                               AgCl 负载于 CeO 2 上,没有改变 CeO 2 原有的介孔结
            2   结果与讨论                                          构。在 p/p 0 为 0.8~1.0 之间吸附量有飞跃说明介孔
                                                               CeO 2 的孔道被填充。
            2.1   结构表征
            2.1.1  XRD 分析
                 图 1 为 CeO 2 和 Ag/AgCl/CeO 2 (x)样品的 XRD
            图谱。图 1a 是小角衍射谱图,4 个样品的图谱相似,
            均在 2θ=0.5°附近形成尖锐的峰,说明样品结晶度良
            好,且具有有序的介孔结构。Ag 的负载没有改变
            CeO 2 的介孔结构。图 1b 为广角衍射图,通过与 Ag
            (JCPDS 65-2871)、AgCl(JCPDS 31-1238)和 CeO 2
            (JCPDS 34-0394)的特征衍射峰对比可知,制备的
            CeO 2 是纯相的面心立方结构。Ag/AgCl/ CeO 2(x)的谱

            图上均出现了 Ag 和 AgCl 的特征峰,在 CeO 2 上形成                           图 2   样品的 N 2 吸附-脱附等温线
            了立方相 AgCl 晶体。用高压钠灯照射后,AgCl 中                         Fig. 2  N 2 -adsorption desorption isotherms of samples

                      +
            的一些 Ag 还原为 Ag。还原后的 Ag 聚集形成立方                           样品的结构参数见表 1,通过 BJH 模型计算了样
            相的 Ag 沉积在 AgCl 颗粒表面。随着 Ag 掺杂量增                     品孔径,通过 BET 方法计算了样品的比表面积和孔
            加,Ag 的特征峰强度增加。
                                                               容。总体看来,微波辅助合成的 CeO 2 和 Ag/AgCl/CeO 2
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