Page 154 - 《精细化工》2020年第4期
P. 154
·788· 精细化工 FINE CHEMICALS 第 37 卷
1.3 OLED 器件制备与测试
为了研究 3 种金属 Ir(Ⅲ)配合物作为有机电致
发光 材料 的电 致发 光性 能, 制备了 3 种以
Ir(CH 3ppy) 2(detd)、Ir(CH 3ppy) 2(tmd)、Ir(CH 3ppy) 2(acac)
为发光中心的有机发光二极管(OLEDs):ITO/
HAT-CN(15 nm)/TAPC(50 nm)/TCTA(5 nm)/TCTA:X
(8%,15 nm)/Bepp 2 (35 nm)/LiF(1 nm)/Al。其中,
氧化铟锡(ITO)为阳极,HAT-CN(2,3,6,7,10,11-
六氰基 -1,4,5,8,9,12- 六氮杂苯 并 菲)和 TAPC
〔4-[1-[4-[二(4-甲基苯基)氨基]苯基]环己基]-N-(3-
图 1 化合物Ⅲ、化合物Ⅳ和化合物Ⅴ的 TG 曲线
甲基苯基)-N-(4-甲基苯基)苯胺〕分别为空穴注入材 Fig. 1 TG curves of compounds Ⅲ, Ⅳ and Ⅴ
料和空穴传输材料,TCTA〔4,4',4''-三(咔唑-9-基)
三苯胺〕为主体材料,将质量分数 8%的上述 3 种金 2.2 紫外-可见光谱测定
属铱配合物掺杂其中作为有机发光层,Bepp 2 (吩基 金属铱配合物Ⅲ、Ⅳ和Ⅴ的紫外吸收光谱如图
吡啶铍)为电子传输材料,LiF/Al 组成双阴极。基 2 所示。
片处理方法如下,超声:使用德国豪玛(HELLMA)
公司 320.003 型元器件专业清洗液超声 90 min;清
洗:手套清洗,去离子水清洗;烘干:通风烘箱,
120 ℃烘 1 h,氧等离子体处理:氧气,压强 15 Pa,
–5
6 min,烘烤 60 min。实验开始压强:3.0×10 Pa,
腔体温度:48 ℃。
2
器件的基板采用 ITO 玻璃(15 Ω/cm ),首先
使用氧等离子轰击 20 min,然后进行有机镀膜,
15 nm 的空穴注入材料 HAT-CN,50 nm 的空穴传输
材料 TAPC 首先被沉积在 ITO 玻璃基板上,然后客
体材料与主体材料通过共蒸镀的形式构成 15 nm 的 图 2 化合物Ⅲ、Ⅳ和Ⅴ的 UV-Vis 谱图
发光层,接着是 35 nm 的电子传输层 Bepp 2 ,1 nm Fig. 2 UV-Vis absorption spectra of compounds Ⅲ, Ⅳ
的 LiF 作为电子注入层和 100 nm 的阴极 Al。在材 and Ⅴ
–5
料蒸镀沉积时,真空室压力保持在 1×10 Pa 以下。 由图 2 可知,配合物在 250~280 nm 有强吸收峰,
器件的表征 采用计算机 控制的 Keithley Source 摩尔吸收系数在(6~5.4)×10 L/(mol·cm),为苯基吡
3
2400/2000 和 PR650 电流-电压-亮度计,电致发光光 啶配体芳香环电子 π-π*跃迁产生。值得注意的是,3
谱在 F-2500 型荧光分光光度计测得,所有测试均在 个化合物在 450~470 nm 有几个强度较弱的低能吸
室温大气压下测得。 收峰,这是典型的 Ir(Ⅲ)配合物的吸收。这些吸
收分别来自自旋允许的单线态金属到配体吡啶单元
2 结果与讨论
1
的电荷跃迁( MLCT)及配体苯环单元到配体吡啶
1
2.1 热重分析 单元的电子跃迁( LLCT),及通过自旋轨道耦合
图 1 是金属铱配合物Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ的 TGA 曲线, 而部分允许的三线态金属 d 轨道到配体吡啶单元的
3
从图 1 可以看出,含有辅助配体 acac 的金属铱配合 电子跃迁( MLCT) [18,21] 。
物Ⅴ的热稳定性最好(样品失重 5%的温度为 340 2.3 荧光光谱测定
℃),金属铱配合物Ⅲ、Ⅳ的热稳定性相近,样品 图 3 是化合物Ⅲ、Ⅳ和Ⅴ在二氯甲烷溶液(浓
–4
失重 5%时温度分别为 304 和 316 ℃。这是由于辅助 度均为 1×10 mol/L)中液体状态下的荧光光谱
配体乙酰丙酮含有支链较少,根据立体效应和电子 (PL)。由图 3 可知,激发波长在 250~280 nm 时,
效应可知 [21] ,其很难旋转产生更多的自由基,而化 化合物Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ的最大发射波长分别为 530.8、
合物Ⅲ、Ⅳ有较多的支链结构,可以形成更多的自 534.2、524.8 nm。化合物Ⅲ较化合物Ⅴ红移了 6 nm,
由基而降低了稳定性。三者在失重 5%时的温度都大 化合物Ⅳ比化合物Ⅲ红移了 3.4 nm。红移或者蓝移
于 300 ℃,基本可以满足 OLED 器件在高温地区正 主要由电子效应和空间效应引起,3 种辅助配体
常工作的需要。 acac、detd、tmd 的配位原子均为氧,电子效应基本