Page 71 - 《精细化工》2021年第5期
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第 5 期                 贺非凡,等: KH560@ZnO 掺杂淀粉复合材料的制备及其抑菌特性                                 ·925·


            外发射峰主要与纳米 ZnO 薄膜中的禁带边自由激子                              由图 12 可知,ZnO 在 164~467  ℃存在一个宽
            的辐射复合有关;绿光发射峰主要与纳米 ZnO 薄膜                          的吸热峰,对应的热焓值(∆H)为–61.59 J/g。这是
            中的氧空位缺陷有关          [21] 。从图 10 可以看出,随着             由于样品吸热失去 ZnO 孔隙吸附的自由水所致。
            KH560@ZnO 含量增加,发射峰强度变强,复合膜                         KH560@ZnO 在 278.3、339.6 和 457.8  ℃处各有一
            PL 性能增强;而纳米 ZnO 掺杂量为 7%的淀粉膜,                       个放热峰,热焓值分别为 39.30、7.53、26.61 J/g,
            由于纳米 ZnO 的团聚,处于纳米维度的 ZnO 含量减                       分别对应有机基团部分炭化分解放热、有机烷氧基
            少,发射峰强度降低,而经过 KH560 改性纳米 ZnO                       团氧化燃烧放热、脱去—OH 和部分剩余有机物。
            淀粉膜的发射峰强度则明显变强,侧面表明 KH560                              KH560@ZnO 淀粉复合膜的 TGA 曲线如图 13
            有效地改善了纳米 ZnO 的团聚效应,提高了纳米                           所示。
            ZnO 的分散性。
            2.5    复合膜的稳定性分析
                 图 11 为 KH560 改性前后纳米 ZnO 的 TGA 曲线。












                                                                         图 13   不同淀粉膜的 TGA 曲线
                                                                     Fig. 13    TGA curves of different starch film

                                                                   由图 13 可知,ZnO 淀粉膜在第二阶段 250~

                 图 11   纳米 ZnO、KH560@ZnO 的 TGA 曲线              325 ℃失重最大,约 62.55%,热稳定性高于淀粉膜。
               Fig. 11    TGA curves of nano-ZnO and KH560@ZnO   纳米 ZnO 对淀粉膜的热分解有保护作用,纳米 ZnO

                 由图 11 可知,纳米 ZnO 在 0~250  ℃质量损失                的加入,使得复合膜的构造发生了变化,热解残余
                                                               量也增大。对比原淀粉膜热分解,KH560@ ZnO 淀
            现象不明显,质量损失约 0.62%,这是由纳米 ZnO
                                                               粉膜的热分解过程增加 125~225  ℃阶段,质量损失
            表面少量游离的水分蒸发引起的;250~600  ℃之间,
                                                               率为 19.47%。这是 KH560@ZnO 与淀粉膜反应形成
            纳米 ZnO 失重率约为 2.72%,主要是纳米粒子表面
                                                               的基团分解造成的热损失,结合 FTIR 结果说明
            羟基分解所致;250~600  ℃之间,KH560@ZnO 的
                                                               KH560 参与了淀粉膜糊化交联的成键反应。
            质量损失约 5.86%,这是由于纳米 ZnO 表面接枝的
                                                               2.6    复合膜的机械性能
            KH560 中—CH 3 分解以及较稳定的 Si—O 键分解所
                                                                   图 14 为 KH560@ZnO 含量为 0、1%、3%、5%、
            致。TGA 分析表明,KH560 已成功对纳米 ZnO 的
                                                               7%、10%的淀粉基底半导体复合膜的力学性能。
            表面接枝改性,且接枝率为 10.09%。

                 图 12 为 KH560 改性前后纳米 ZnO 的 DSC 曲线。
















                                                                           图 14   复合膜的力学性能

                                                               Fig. 14    Mechanical properties of the composite membrane
                 图 12   纳米 ZnO、KH560@ZnO 的 DSC 曲线
               Fig. 12    DSC curves of nano-ZnO and KH560@ZnO     由图 14 可知,天然淀粉薄膜的拉伸强度和断裂
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