Page 48 - 《精细化工》2023年第6期
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·1198· 精细化工 FINE CHEMICALS 第 40 卷
综上可知,通过选择有机配体、官能团修饰以 3.3.3 储氢
及掺杂等方式,可以提高 UiO-66 及其系列化合物对 H 2 是一种清洁能源,但其实际应用中需要解决
CO 2 的吸附性能。 储存和安全运输问题。H 2 的储运方式较多,其中吸
3.3.2 吸附有毒气体 附剂法具有安全、方便等优点。各类吸附剂中,MOFs
空气污染是当今亟待解决的环境问题,其中 材料具有比表面积大、无毒、容量大等特性,是一
CO、SO 2 和 H 2 S 等气体是最常见的污染物。为了从 种潜在的气体储存材料。MOFs 种类众多,其中
空气中捕获有毒气体,采用固体吸附剂(多孔碳材 UiO-66 及其改性材料具有强稳定性和均匀的金属
料、沸石和 MOFs 材料)进行吸附分离,是一种较 点位等特点,因此,在 H 2 的高效储存方面备受关注。
有前景的方法。吸附法分离有毒气体,既可以克服 QIANG 等 [89] 探究了 UiO-66 的合成及储氢性
化学吸附法的再生能耗高和溶液损失大的缺点,还 能,结果表明,在 77 K 和 1.8 MPa 的条件下,以
避免了设备腐蚀问题 [92] 。现有吸附剂种类较多,其 DMF 为介质合成的 UiO-66 对 H 2 的吸附量为 3.35%
中,MOFs 由于比表面积大、孔隙率高而备受关注。 (质量分数,下同),该容量高于乙醇作为介质获
WALTON 等 [87] 采用乙酸、三氟乙酸、N,N-二甲 得的 UiO-66(2.53%)。ABID 等 [90] 使用溶剂交换
氨基丙酸、氰乙酸 4 种调节剂,分别合成了 UiO-66 法合成了 UiO-66。结果显示,77 K、0.2 MPa 时
并用于对 SO 2 吸附。结果表明,氰乙酸调节剂合成 UiO-66 对 H 2 的吸附量为 1.8%(18 mg/g);当压力
的 UiO-66 的吸附容量最高,达 0.84 mmol/g。这是 为 6.0 MPa 时,UiO-66 对 H 2 的吸附量增加到 4.2%
因为,引入的新结合位点将残余调节剂纳入了 (42 mg/g),而在 296 K、6.0 MPa 时对 H 2 的吸附
UiO-66 的配位,增强了 SO 2 与残余调节剂和配位连 量仅为 0.5%(5 mg/g)。BAMBALAZA 等 [96] 探究
接体的相互作用,实现了 SO 2 吸附容量的提高。 了脱羟基和羟基化的 UiO-66 对 H 2 的储存能力。结
DRISCOLL 等 [93] 探究了羟基化 UiO-66 对 CO 的吸 果表明,羟基化的 UiO-66 在 77 K 和 10 MPa 下对
附影响。由红外光谱分析可知,根据 CO 的不同伸 H 2 的吸附量达到 4.6%,比脱羟基化的 UiO-66(3.8%)
缩振动〔v ads (CO)〕结果确定了 CO 和µ 3 -OH 基团之 的储氢能力高 21%。将 UiO-66 压实后,脱羟基的
间的两种独特结合构型,CO 通过静电相互作用与 UiO-66 对 H 2 的吸附量降低了 66%,羟基化 UiO-66
µ 3 -OH 形成氢键;其中,UiO-66 的µ 3 -OH 基团会造 的吸附量仅降低了 9%,这意味着压实的羟基化
成 CO 拉伸频率的扰动。因此,在 UiO-66 的封闭孔隙 UiO-66 对 H 2 吸收能力比脱羟基化 UiO-66 高 2 倍多,
环境中,吸附 CO 需要 CO-羟基的相互作用。LI 等 [94] 因此,羟基化 UiO-66 在储氢应用中更具前景。
采用 Material Studio 软件构建了 UiO-66-COOH,并 WANG 等 [91] 采用 Zr(Ⅳ)金属离子和 2,5-二烯丙基醚
通过分子模拟,探究了该材料从微量含硫气体混合 对 苯二甲 酸( DETA )合 成了一 种可 交联材 料
物中捕获 H 2 S 和 SO 2 的可能。 结果表明 , UiO-66-DETA,然后通过双键交联,获得了一种新
UiO-66-COOH 与 YANG 等 [95] 构建 的 UiO-66- 的交联物质 UiO- 66-DETA-CL。结果表明,交联的
UiO-66-DETA-CL 可在 340 ℃之前保持结构不变,
(COOH) 2 结构捕获 H 2 S 和 SO 2 时,比—NH 2 、—NO 2
及—OH 等官能团功能化的 UiO-66 更有前途。因为 其残炭率比 UiO- 66-DETA 高,因此,交联改性增
它们具有较强的极性和亲水性官能团—COOH,由 强了吸附剂的热稳定性。UiO-66-DETA-CL 在 77 K、
此表明,吸附剂官能团的极性和亲水性对 H 2 S 和 SO 2 4 MPa 时对 H 2 的吸附量达到 5.36%。
的吸附起着重要的作用。VO 等 [88] 采用缺陷 UiO-66 综上可知,UiO-66 在高压下对 H 2 的吸附容量
2+
作为载体,通过浸渍法负载 Cu ,在 150 ℃下将 较高,而在常压下对 H 2 的吸附容量则相对较差。因
2+
+
Cu 还原为 Cu ,并得到 Cu(Ⅰ)@UiO-66 吸附剂。 此,该领域后续研究应集中在吸附剂的稳定性及常
4+
研究表明,CH 3 COOH 与 Zr 物质的量比从 50 增加 压下吸附性能等方面。
到 150、200 和 250 时,次级构筑单元(SBUs)的 3.3.4 其他吸附
配体缺陷分别从 1.28 增加到 2.60、2.91 和 3.02,吸 UiO-66 不仅用于气体吸附,还用于吸附重金属
2
附剂的比表面积从 1090 m /g 分别增加到 1201、 离子、有机污染物以及着色剂。
2
1434、1520 m /g,表明增加配体缺陷可提高 UiO-66 ZHANG 等 [97] 提出了结合吸附和光催化还原的
+
的比表面积,有利于 Cu 并入 UiO-66 骨架。 新方法去除 U(Ⅵ),即将 12-磷钼酸(PMo 12 )包封
综上所述,表面化学物质可以修饰 UiO-66 中的 在 UiO-66 内作为吸附剂与催化剂。结果表明,
活性位点,从而提高 UiO-66 去除有毒气体的能力, PMo 12 /UiO-66 具有较高的吸附量,对 U(Ⅵ)的最大
但尚未建立可广泛应用于有毒气体的通用设计策 理论吸附容量达 225.36 mg/g,并且其光催化还原速
略,来帮助合成有前途的 MOFs。 率为 UiO-66 的 30 倍。REN 等 [98] 制备了复合材料