Page 119 - 《精细化工》2023年第9期
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第 9 期                     赵   鹏,等:  含唑硅烷偶联剂有机金属涂层的制备及性能                                 ·1967·


            图 12 是空白、KH132、KH580、棕化、TUP-1~5 和                  面处理,并与现有棕化工艺和 KH132、KH580 两种
            IAP-1~5 涂覆的铜箔与环氧树脂半固化片经压合后                         硅烷偶联剂作对比,制备了有机金属涂层,对涂层
            测试的剥离强度数据。图 12 显示,涂覆棕化膜的铜                          成膜性、疏水性、平整性、耐蚀性、铜/环氧树脂层
            箔经压合后的附着力最大,这主要是依靠棕化处理                             间附着力等性能进行了测定,结论如下:
            后铜面形成凹凸不平的蜂窝状粗糙结构,层压时与                                (1)通过 FTIR 表征证明经 TUP-3 和 IAP-3 处
            树脂建立机械咬合作用;此外,棕化液中的双氧水                             理后,铜面均产生了 Si—O—Si 和 Si—O—Cu 共价
            和 BTA 等组分在铜面通过化学键合作用形成一层                           键,形成了有机金属保护涂层;SEM 观察到铜箔经
            有机铜氧化膜,这层氧化膜在层压过程中与树脂发                             IAP-3 处理后表面平整光滑,存在微小裂纹;铜面
            生固化交联反应        [34] ,其中以机械作用为主,化学键                 经 TUP-3 处理后表面形成了一层相对平整且致密均
            合为辅,双重因素影响下提高了铜/树脂界面间的附                            匀的保护膜,无明显的颗粒突起和裂纹。
            着力。TUP-1~5 和 IAP-1~5 处理的铜箔附着力相对                       (2)采用 AFM 分析了涂层的平整性,经 TUP-3
            较大,这是由于一方面水解液中的 Si—OH  与铜表                         和 IAP-3 处理后的铜面相对平整光滑,呈现均匀的
            面的 Cu—OH 缩聚形成键合;另一方面 TUP 和 IAP                     凹坑状,R q 和 R a 下降至 21 nm 以下,与棕化工艺(R q
            结构中噻唑环或咪唑环中含 N、S 杂原子能够提供                           257.0 nm,R a  204.0 nm)相比,大幅降低了铜面粗
            孤对电子,与铜表面 Cu 2 O 中铜原子的 d 轨道形成                      糙度。
            π键或共价键,形成非常稳定的不溶性有机金属聚                                (3)水接触角测试结果显示,TUP-3 和 IAP-3
                 [9]
            合物 ,这层聚合物涂层能与树脂交联起到黏结铜                             这两种唑硅烷偶联剂与铜面键合形成的有机保护膜
            基材与树脂的作用。KH132 水解液中仅依靠 Si—OH                       的水接触角分别为 142°±1°和 131°±1°,疏水性比棕
            作用形成键合,结合力最弱,层间附着力只有                               化膜(水接触角 123°±1°)和其他两种硅烷膜更优异。
            1.32 N/cm。KH580 结构中同时含有 Si—O 和—S,                     (4)采用电化学、盐雾和盐水浸泡实验对涂层
            两者均能与铜面发生化学键合作用                 [14] ,因而黏结力        的防腐性能进行了测定,结果表明,TUP 和 IAP 含
            相比 KH132 略高。空白测试板既无机械互锁作用又                         量为 3%的 TUP-3 和 IAP-3 水解液在铜面固化成膜
            无化学键合,单靠物理压合无法黏结铜箔与树脂,                             后,极化曲线表现出较小的腐蚀电流,缓蚀效率分
            因而在压合过程中发生脱落。相较于棕化工艺,                              别达到 99.2%和 98.8%,Nyquist 曲线显示较大的阻
            TUP-3 形成的有机金属涂层在基本保持铜面平整的                          抗半径,从 Bode 曲线可以看出两者的低频阻抗模量
            前提下,铜/树脂层间附着力仍能达到 5.97 N/cm,                       |Z| 0.01 Hz 分别达到 1.88×10 和 1.24×10 ,比 KH132、
                                                                                                3
                                                                                     3
            能有效黏结铜箔与环氧树脂,满足印制电路内层板                             KH580 涂层提高近 2 个数量级,比棕化膜提高了一
            剥离强度要求(>5.68 N/cm)。                                个数量级。其中,TUP-3 涂层的防腐效果相对来说
                                                               最优,耐盐雾腐蚀时间可达 14 d,在盐水浸泡实验

                                                               中保持 30 d 无明显变化,该涂层具有较好的附着力,
                                                               铜/树脂界面剥离强度为 5.97 N/cm,远大于现有的
                                                               KH132 和 KH580 键合工艺,满足印制电路内层板附
                                                               着力要求。
                                                                   (5)与常用于印制电路内层铜箔表面处理的
                                                               KH132 和 KH580 相比,TUP 处理后的铜/树脂层间
                                                               附着力更大,耐腐蚀性更好;与现有的棕化工艺相
                                                               比,TUP 工艺粗糙度更低,防腐性更强。TUP 表面

                                                               处理工艺能兼顾平整性、疏水性、防腐性和附着力
            空白测试板因表面未处理粘结力太差发生脱落,压合过程失效,                       4 种性能,尽管铜/树脂层间结合力略低于棕化工艺,
            无法测试剥离强度
               图 12   不同表面处理工艺铜/环氧树脂层间附着力                      但该工艺可为平整化、高度疏水、长效耐腐蚀和强
            Fig. 12    Adhesion between layers of copper/epoxy resin in   结合力的金属表面处理工艺研究提供借鉴,未来可
                    different surface treatment processes      继续对唑硅烷的分子结构进行功能化改造、也可从

                                                               有机金属涂层对树脂的选择性和涂层成膜机理等方
            3   结论                                             面进行深入研究以进一步提高铜/树脂层间附着力。

                 采用异氰酸酯酰胺化反应合成了 TUP 和 IAP 两                    参考文献:
            种唑硅烷偶联剂,应用于高频高速印制电路铜箔表                             [1]   MORGAN S P. Effect of surface roughness on eddy current losses at
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