Page 150 - 《精细化工》2020年第7期
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·1432·                            精细化工   FINE CHEMICALS                                 第 37 卷

                 图 3a 为 rGO、SnO 2 和 rGO(1.0%)-SnO 2 样品的
                                                     –1
            红外谱图。由图 3a 可知,在 rGO 中,3432 cm 附近
                                                       –1
            为样品吸附水的伸缩振动峰,2974 和 2918  cm 附
            近为 rGO 结构中 C—H 键的伸缩振动峰             [27] 。1635 cm –1
                                           –1
            为水分子的弯曲振动峰,1399  cm 为 rGO 结构中
                                       –1
            —OH 的弯曲振动峰,1089 cm 处为 C—O—C 的伸
            缩振动峰,1049  cm      –1  为 C—OH 的伸缩振动峰,
                   –1
            880  cm 为 C—O—C 的弯曲振动峰           [28-30] ,表明 GO
            未被还原彻底。与纯 SnO 2 样品比较,rGO(1.0%)-
                                    –1
            SnO 2 样品中只在 1049  cm 处出现 C—OH 的吸收
            峰,表明 SnO 2 与 rGO 进行了复合。在 656 和 630 cm        –1
            附近出现 的反对称 振动峰则 来自纯 SnO 2 和
            rGO(1.0%)-SnO 2 样品中的 O—Sn—O 键       [23,31] ,这证
            明 SnO 2 的形成。图 3b 为 rGO(1.0%)-SnO 2 样品的
            XPS 全谱分析。从图 3b 中可以得出,该复合物样品

            中含有 C、Sn 和 O 元素,进一步表明 rGO 与 SnO 2
            进行了复合。图 3c 为 Sn 3d 的 XPS 谱图。在 486.9
                                                    4+
            和 495.4  eV 处的衍射峰分别对应价态为 Sn 的 Sn
                                                       [32]
            3d 5/2 和 Sn 3d 3/2 ,这进一步表明成功制备出 SnO 2        。
            图 3d 为 rGO(1.0%)-SnO 2 样品中 C 1s 的 XPS 谱图,
            经分峰拟合后分别在 284.8、286.6、287.1 和 289.1 eV
            处对应 rGO 结构中 C==C/C—C、C—OH、C—O—C
            和 HO—C==O 官能团。结果表明,各含氧官能团未
            被完全去除,所以经热处理后的 rGO 未被还原彻底,
            这与红外结果一致。图 3e 为 O  1s 的 XPS 谱图,
            530.7 eV 处属于 O—Sn—O 中的 O,531.4 和 532.4 eV
            分别对应于 rGO 结构中 C—OH 和 HO—C==O 等含
            氧官能团中的 O       [18,33] 。

                                                               图 3  rGO,SnO 2 和 rGO(1.0%)-SnO 2 样品的 FTIR 图谱(a);
                                                                    rGO(1.0%)-SnO 2 样品 XPS 全谱(b)、Sn 3d (c)、C 1s
                                                                    (d)和 O 1s (e)谱图
                                                               Fig. 3    FTIR  spectra of  rGO, SnO 2   and  rGO(1.0%)-SnO 2
                                                                     samples (a), XPS spectra of rGO(1.0%)-SnO 2  sample
                                                                     (b), Sn 3d (c), C 1s (d) and O 1s (e)

                                                                   通过 SEM、TEM、HRTEM 和选区电子衍射
                                                               (SAED)对纯 SnO 2 和 rGO(1.0%)-SnO 2 复合物的形
                                                               貌、微观结构以及晶体学特征进行表征。图 4a 为纯
                                                               SnO 2 的 SEM 图片。结果显示,SnO 2 颗粒较小,团聚
                                                               明显。图 4b 为 rGO(1.0%)-SnO 2 纳米复合物的 SEM
                                                               图片。可以看出,大部分 SnO 2 沉淀在 rGO 表面,少
                                                               部分 SnO 2 被 rGO 覆盖,图 4b 中 SnO 2 颗粒较大的原
                                                               因是样品分散不均匀。为了更清晰地观察 rGO(1.0%)-
                                                               SnO 2 纳米复合物,其 TEM 图如图 4c 所示。结果表
                                                               明,SnO 2 完全包覆在 rGO 表面且在 rGO 边缘的 SnO 2
                                                               具有较好的分散性,粒径为 6~20 nm,这可使 SnO 2
                                                               半导体的气敏性能显著增加             [34] ,进而有利于提高复

                                                               合材料的气敏性能。图 4d 为 rGO(1.0%)-SnO 2 复合
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