Page 141 - 《精细化工》2022年第12期
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第 12 期               梁   慧,等:  双模板法 CeO 2 /g-C 3 N 4 形貌特征及湿式催化过氧化性能                     ·2507·


            浓度,按下式计算苯酚去除率:
                             η/%=( 0 –)/ 0 ×100
            式中:η 表示苯酚去除率,%; 0 表示初始溶液的苯
            酚质量浓度,mg/L; 表示催化降解 180 min 后溶
            液中苯酚的质量浓度,mg/L。
            2   结果与讨论


            2.1  XRD 分析
                 CeO 2 /g-C 3 N 4 样品的 XRD 谱图,见图 1。

                                                                         图 2   样品的 N 2 吸附-脱附曲线
                                                                 Fig. 2  N 2  adsorption-desorption curves of the samples

                                                                   由图 2 可知,样品的 N 2 吸附-脱附等温线属于
                                                               Ⅳ型等温线,在相对压力 p/p 0 为 0.5~0.9 间有明显的
                                                               H2 型回滞环,存在明显的笼状结构,属于典型介孔
                                                               结构特征,回滞环较小,表明复合材料形成空孔或
                                                               颗粒间空隙     [33] 。
                                                                   CeO 2 /g-C 3 N 4 的比表面积、孔容积以及孔径分布
                                                               参数见表 1。


                          图 1   样品的 XRD 谱图                                   表 1   样品的结构参数
                     Fig. 1    XRD patterns of the samples          Table 1    Structural parameters of the samples

                                                                      样品          比表面积/      孔容/     平均孔径/
                                                                                               3
                                                                                     2
                 由图 1 可知,D-CeO 2 /g-C 3 N 4 、S-CeO 2 /g-C 3 N 4                    (m /g)    (cm /g)   nm
            具有相似的特征衍射峰,对应标准卡片(JCPDS#                            D-CeO 2/g-C 3N 4(2.5)  34.27  0.07430  0.497
            34-0394),样品在 2θ=28.5°、33.2°、47.5°、56.4°、69.5°       D-CeO 2/g-C 3N 4(5.0)  46.56  0.06222  0.651
            以及 76.7°处出现 CeO 2 的特征衍射峰,分别与(111)、                  D-CeO 2/g-C 3N 4(7.5)  55.00  0.05919  2.453
                                                                S-CeO 2/g-C 3N 4(7.5)  50.32  0.05502  2.274
            (200)、(220)、(311)、(400)和(331)晶面对应,CeO 2
            高度结晶具有立方相特征            [28] 。CeO 2 晶体暴露的晶面
            在催化性能中具有重要的作用。张宣娇等                    [29] 研究表         由表 1 可知,双模板法为样品提供了更大的比
            明,CeO 2 的(220)晶面相比(111)晶面更易形成氧空                    表面积和孔容,随着铈源投加量的增加,CeO 2 颗粒
            位,从而更易吸附表面氧物种,使其在催化氧化过程                            增多,D-CeO 2 /g-C 3 N 4 样品比表面积和孔径逐渐增
            中表现出较高的催化活性。何丽芳等                  [30] 研究表明,       大。D-CeO 2 /g-C 3 N 4 (7.5)的比表面积和平均孔径分别
                                                                        2
            CeO 2 形貌与催化性能之间的关系为:棒状>球形颗                         为 55.00 m /g 和 2.453 nm。相同铈源投加量时,软
            粒>海绵状。球形颗粒状 CeO 2 晶体暴露(220)和(111)                  模板法 S-CeO 2 /g-C 3 N 4 (7.5)的比表面积和平均孔径
                                                                                   2
            晶面,双模板法合成的复合材料中 CeO 2 为均匀的球                        较小,分别为 50.32 m /g 和 2.274 nm,存在差异的
            形颗粒,具有较好的催化活性。g-C 3 N 4 的 XRD 图中,                  原因可能是制备方法的不同,双模板法样品存在
                                                               g-C 3 N 4 骨架支撑,而软模板法样品无骨架支撑,从
            在 2θ=13.0°和 27.5°处出现两个衍射峰,对应 g-C 3 N 4
            标准卡片(JCPDS#87-1526)的(100)和(002)晶面,                 而影响比表面积和孔径的大小              [34] 。
                                                     [31]  。   2.3  XPS 分析
            表明 合成 的样 品为 层叠 结构 类 g-C 3 N 4
            CeO 2 /g-C 3 N 4 的 XRD 图中没有明显的 g-C 3 N 4 (002)         CeO 2 /g-C 3 N 4 样品的 XPS 分析结果如图 3 所示。
            晶面衍射峰,这可能因为随着 CeO 2 物质的量的增                         由图 3a 可知,D-CeO 2/g-C 3N 4(7.5)、S-CeO 2/g-C 3N 4(7.5)
            加,g-C 3 N 4 在 2θ=27.5°处的衍射峰移动到 28.5°,被             样品主要由 C、N、O、Ce 4 种元素组成。在 C 1s

            2θ=28.5°处 CeO 2 的衍射峰覆盖,g-C 3 N 4 的加入并未             谱(图 3b)中,D-CeO 2/g-C 3N 4(7.5)在 284.6、289.1 eV
            影响 CeO 2 的特征峰     [32] 。XRD 分析表明,CeO 2 /g-C 3 N 4  处有两个峰,S-CeO 2 /g-C 3 N 4 (7.5)在 284.8、289.1 eV
            复合材料具有立方相CeO 2 和层叠结构g-C 3N 4 的特征。                  处有两个峰,两种制备方法产生的峰位置接近,在
                                                                                            2
            2.2  N 2 吸附-脱附分析                                   284.6、284.8 eV 处的峰对应于 sp 结合的 C—C 键,
                 CeO 2/g-C 3 N 4 样品的 N 2 吸附-脱附表征结果见图 2。        在 289.1 eV 处的峰对应于 g-C 3N 4 的 C==N 和 N—C—
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