Page 56 - 《精细化工》2023年第1期
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·48·                              精细化工   FINE CHEMICALS                                 第 40 卷

            C—O—C 伸缩振动峰均向高波数方向偏移,这也表                           TGA 和 DSC 曲线见图 7。从图 7a、b 可以看到,随
            明 ZrO 2 的加入增强了 PI 分子骨架的振动。                         着 ZrO 2 含量的增加,薄膜的初始分解温度(质量损
                                                               失 1%时的温度)由 PI 的 395  ℃升到 ZrO 2 (40)/PI
                                                               的 415  ℃,提高了 5%,且从图 7b 可以看出,薄膜
                                                               分解过程吸热峰也随着 ZrO 2 含量的增加而增大,表
                                                               明 ZrO 2 使 PI 薄膜的热稳定性提高。这是由于 ZrO 2
                                                               本身具有良好的耐高温特性,同时 ZrO 2 的引入也促
                                                               进了 PI 链的分子纠缠       [15] ,从而增加了分子结构的热
                                                               稳定性,提高了复合材料整体的耐热性能                   [16-17] 。将
                                                               800  ℃下的样品残炭率进行对比发现,纯 PI 的残炭
                                                               率基本为 0,随着 ZrO 2 添加量的增加,样品残炭量
                                                               也依次增加,这也印证了 ZrO 2 纳米颗粒可以有效提

            图 5  PI 与 ZrO 2 (m)/PI(m = 16、24、32、40)的 FTIR      高 PI 薄膜的耐热性能。
                 谱图
            Fig. 5    FTIR spectra of PI film and ZrO 2 (m)/PI (m = 16, 24,
                   32, 40) films

                 图 6 是 PI 与 ZrO 2 (40)/PI 薄膜的断面 SEM 图。
            从图 6a、b 可以看出,PI 断面处比较平滑,而 ZrO 2
            (40)/PI 薄膜的断面在断口处有一些细微的隆起,顶
            端出现了一些小颗粒(图 6c、d)。这可能是由于聚
            酰亚胺链的相互纠缠而形成的                [15] ,小颗粒推测是
            ZrO 2 。从图 6e、f 的元素面扫可以看出,Zr 元素均
            匀分布于 PI 基底上。
















                                                                     注:图 a 中插图为各样品初始分解温度对比图
                                                               图 7  PI 以及 ZrO 2 (m)/PI(m = 16、24、32、40)薄膜的
                                                                    TGA(a)和 DSC(b)曲线
                                                               Fig. 7    TGA (a) and DSC (b) curves of PI and ZrO 2 (m)/PI
                                                                     (m = 16, 24, 32, 40) films

                                                                   PI 及 ZrO 2 (m)/PI(m = 16、24、32、40)薄膜
                                                               的水接触角(CA)见图 8。从图 8 可以看出,未添
                                                               加 ZrO 2 的 PI 薄膜的水接触角为 57.1°,表现出较强
            图 6  PI 断面(a、b)和 ZrO 2 (40)/PI 断面(c、d)的 SEM
                                                               的亲水性,这是因为聚酰亚胺本身存在亲水基团
                 图;ZrO 2 (40)/PI 断面处(图 c 中矩形)的 Zr(e)、
                                                               [18-20]
                 C(f)的 EDS 图                                       。随着 ZrO 2 含量的增加,ZrO 2 (m)/PI 薄膜的水
            Fig. 6    Cross-section  SEM images of    PI(a, b) film and   接触角依次增大为 71.3°、80.5°、88.2°、91.7°,与
                   ZrO 2 (40)/PI film (c, d); EDS mapping of Zr (e) and   PI 薄膜相比,ZrO 2 (40)/PI 薄膜的水接触角提高了
                   C (f) for ZrO 2 (40)/PI film marked in c
                                                               61%,疏水性增强。这可能是由于 ZrO 2 粒子表面的
            2.4  PI 薄膜性能测试                                     羟基与 PI 中的亲水基团形成氢键             [10] ,降低了薄膜界
                 PI 及 ZrO 2 (m)PI(m = 16、24、32、40)薄膜的          面亲水基团的数量,疏水性能得到增强。
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