Page 85 - 《精细化工》2023年第2期
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第 2 期 王少婷,等: 雪花状 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 p-n 异质结用于光催化还原 Cr(Ⅵ) ·307·
公司;CEL-LAX500 型光催化反应器,北京中教金 馏水和无水乙醇反复洗涤数次。最后,在 60 ℃下
源科技有限公司。 真空干燥 24 h,得到的黑色固体即为 Cu 2 S,产率约
1.2 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂的制备 92%。
1.2.1 n 型缺陷型 UiO-66 的制备 1.2.3 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 的制备
将 0.233 g 的 ZrCl 4 和 0.181 g 的氨基对苯二甲 采用溶剂热法制备 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光
酸超声溶解于 50 mL DMF 中,加入 1.5 mL TFA 调 催化剂。将 0.04 g 缺陷型 UiO-66 和 0.171 g(1 mmol)
节剂超声混合至形成澄清均匀溶液后,转移至 100 mL CuCl 2 •2H 2 O 超声溶解于 30 mL EDA 中,搅拌 30 min
聚四氟乙烯釜内,并升温至 120 ℃下反应 24 h。冷 后,加入 0.288 g(3 mmol) (NH 2 ) 2 CS,继续搅拌 2 h,
却至室温后,将离心所得的固体沉淀物用 DMF 洗涤 将混合溶液转移至聚四氟乙烯反应釜中,并升温至
数次,在 60 ℃下真空干燥 24 h,收集得到淡黄色 80 ℃下反应 8 h,得到目标产物,记为 50% Cu 2 S/
固体即缺陷型 UiO-66。UiO-66 的制备方法如上,但 缺陷型 UiO-66(以生成的 Cu 2 S 质量计,下同),其
不添加 TFA 调节剂。 余 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂的制备方法同
1.2.2 p 型 Cu 2 S 的制备 上。保持其他条件不变,只需改变缺陷型 UiO-66 的
采用溶剂热法制备 Cu 2 S [28] 。在合成过程中,将 质量,由 0.01、0.02、0.03 和 0.05 g 缺陷型 UiO-66
0.171 g(1 mmol)CuCl 2 •2H 2 O 超声溶解于 30 mL EDA 制得的 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂分别命名
中,搅拌 30 min 后,加入 0.288 g(3 mmol) (NH 2 ) 2 CS, 为 12.5% Cu 2 S/缺陷型 UiO-66、25% Cu 2 S/缺陷型
继续搅拌 2 h,将混合溶液转移至聚四氟乙烯反应釜 UiO-66、37.5% Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 和 62.5% Cu 2 S/
中,并升温至 80 ℃下反应 8 h。冷却至室温后,将 缺陷型 UiO-66。Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂
所得混合溶液进行离心处理,收集沉淀后分别用蒸 的制备示意图如图 1 所示。
图 1 溶剂热法制备 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂示意图
Fig. 1 Schematic diagram of Cu 2 S/defective UiO-66 composite photocatalyst by hydrothermal method
1.3 结构表征与性能测试 灯。将 20 mg Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂加
1.3.1 结构表征 入至 50 mL 质量浓度为 20 mg/L 的 K 2 Cr 2 O 7 溶液中,
用扫描电子显微镜和 EDS 附件对材料的微观 首先暗反应避光磁力搅拌 30 min,以实现吸附-解吸
结构形貌进行表征,并获得样品的表面元素分布; 平衡,然后每 10 min 收集 2 mL 溶液,并用 0.22 μm
用 X 射线衍射仪分析样品的晶体结构,测试条件: 滤膜过滤,采用二苯碳酰二肼显色法(DCP)对 Cr(Ⅵ)
靶材 Cu,管电压 40 V,管电流 40 mA,扫描范围为 滤液进行显色处理,并采用紫外-可见分光光度计在
5°~50°。通过 X 射线光电子能谱仪测量样品的表面 最大吸收波长 540 nm 处测定其吸光度。Cr(Ⅵ)标准
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元素和化学价态。通过紫外-可见-近红外分光光度 曲线的线性拟合方程为 y=0.08741x+0.00244,R =
计测定材料在不同波长下的光吸收强度。采用比表 0.99936。根据 Cr(Ⅵ)的标准曲线计算质量浓度,以
面积分析仪测定 Cu 2 S 和 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 材料 Cr(Ⅵ)光催化还原率为指标来衡量 Cu 2 S/缺陷型
的比表面积以及孔径分布。用荧光光谱仪测定 UiO-66 的光催化性能,其计算公式如下所示。
/
Cu 2 S、缺陷型 UiO-66 和 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 的荧 /% 1 ( 0 ) 100 (1)
t
光强度。采用电化学工作站对 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 式中:η—Cr(Ⅵ)的还原率,%;ρ 0—初始 Cr(Ⅵ)质量
进行电化学性能测试,所用电解质溶液为 0.5 mol/L 浓度,mg/L;ρ t—光照 t 时溶液中 Cr(Ⅵ)的质量浓度,
的 Na 2 SO 4 溶液,溶液的 pH 为 7。 mg/L。
1.3.2 光催化性能测试 1.3.3 催化剂循环使用实验
以 K 2 Cr 2 O 7 溶液作为 Cr(Ⅵ)的主要来源,测试 在循环实验中,选用光催化性能最优材料按照
所制备的 Cu 2 S/缺陷型 UiO-66 复合光催化剂在可见 上述光催化还原步骤进行反应,待反应结束后,通
光照射下光催化还原 Cr(Ⅵ)性能。光催化测试实验 过离心收集催化剂并用 HNO 3 (1 mol/L)和超纯水
均在光催化反应器中进行,可见光光源为 500 W 氙 分别洗涤 3 次,随后将所获得的样品在 60 ℃下干