Page 137 - 精细化工2019年第10期
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第 10 期                  李禹欣,等:  淀粉基底银纳米线柔性透明导电膜的合成及性能                                   ·2103·


            式中:∆L 为膜断裂时长度的增加值,mm;L 0 为膜                        淀粉膜表面进行活性处理的操作。
            初始有效长度,20 mm。
            1.3.3    淀粉膜水接触角测定
                 用接触角测量仪测量水滴在淀粉膜表面的接触
                          [4]
            角,水滴量 5 μL 。
            1.3.4    X 射线衍射(XRD)分析
                 对银纳米线进行 XRD 测试,探索银纳米线结晶
            特性。采用 Cu-K α 辐射,管电压 40 kV、管电流 30 mA、
                                                  [6]
            扫描范围为 0°~90°、扫描速度为 5 (°)/min 。
            1.3.5    傅里叶变换红外光谱分析                                           图 1    淀粉膜接触角分析图
                                                   –1
                 KBr 压片法,波数范围 4000~450  cm ,扫描                    Fig. 1    Contact angle analysis chart of starch film

            32 次。                                                  基底膜的平整度会影响导电膜的制备,高光滑
            1.3.6    SEM 分析                                    的表面能增大银纳米线与淀粉膜的接触面积,增强
                 将淀粉膜用导电胶固定在铝制样品台,加速电                          结合力,基底膜表面的 SEM 图及原子力显微扫描图
            压 0.05~30 kV,采用扫描电镜观察样品表观形貌。                       如图 2~3 所示。由图 2 可知,淀粉分子间形成致密
            1.3.7    表面形貌及粗糙度测定                                的结构,表面平坦光滑且致密,彼此间空隙小。薄
                 采用原子力显微镜(AFM)观察复合膜表面三                         膜表面存在的少量白点为实验过程中没有完全糊化
            维形貌和粗糙度,轻敲模式。                                      的淀粉颗粒。根据 AFM 检测数据(图 3)可知,淀
            1.3.8    热重分析                                      粉膜平均粗糙度 3.92 nm,光滑度较高。因此,淀粉
                 取 5~10  mg 干燥粉末状样品,30~600  ℃,N 2              膜在表面活性和平滑程度上均具有制备导电膜的优
            气氛中以 10  ℃/min 的升温速率,采用热重分析仪                       良特性。
            对样品进行热重分析。
            1.4    性能测试
            1.4.1    光透过性能测定
                 用紫外-可见分光光度计,以空气为对比作基
            线,将导电膜用胶带粘在光束输出口,分别测试淀
            粉基底膜及复合导电膜的透光率,波长范围 200~
            800 nm。
            1.4.2    导电性能测定
                                                                           图 2    淀粉膜表面 SEM 图
                 采用镀膜方块电阻测试仪在淀粉复合膜上分别                               Fig.2    SEM image of the surface of starch film
            取 5 个点,测定方块电阻,取平均值。
            1.4.3    柔韧性分析
                 将薄膜反复弯曲折叠测试薄膜方阻变化。弯曲
            半径为 2 mm。
            1.4.4    环境稳定性测试
                 将复合膜在空气环境下自然放置 100  d,每隔
            10 d 测试薄膜方块电阻的变化。

            2   结果与讨论
                                                                           图 3    淀粉膜表面 AFM 图
                                                                   Fig.3    AFM image of the surface of starch film
            2.1    淀粉基底膜分析
                 图 1 为淀粉基底膜的水接触角。                                  图 4 为淀粉基底膜拉伸应力与位移的关系图。
                 如图 1 所示,淀粉基底膜的水接触角约 22.8°,                    由图 4 可知,薄膜能承受的最大应力为 29.01 MPa,拉
            常规聚偏氟乙烯(PVDF)改性处理聚对苯二甲酸乙                           伸应力最大处对应的拉伸位移最大值为 1.52 mm,原
            二醇酯(PET)薄膜水接触角从未改性 PET 的 70°                       有效长度为 20 mm,断裂伸长率为 7.6%,表明淀粉
                                                        [9]
            降低至 39.5°,不仅工艺复杂,而且膜变得不透明 。                        基底膜机械性能及柔韧性较好。淀粉膜的机械性能
            这说明淀粉膜上保留了较多的羟基与银纳米线溶液                             取决于主链化学键作用力和淀粉分子间作用力,淀
            结合,淀粉基底膜具有良好的亲水性能,节省了对                             粉分子的极性增加或形成氢键均能提高淀粉膜拉伸
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