Page 148 - 《精细化工)》2023年第10期
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·2226·                            精细化工   FINE CHEMICALS                                 第 40 卷

            甲基(亚甲基峰)要比 570@SiO 2 更为明显,进一
            步说明 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 的成功合成。












                                                               图 4  570@SiO 2 (a)和 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 (b)的 XRD
                                                                    谱图

                                                               Fig. 4    XRD patterns of 570@SiO 2  (a)  and C 18 -NH 2 /
            图 2  570@SiO 2 (a)及 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 (b)的 FTIR       570@SiO 2  (b)

                 谱图
            Fig. 2    FTIR spectra of 570@SiO 2  (a)  and C 18 -NH 2 /   2.4  XPS 分析
                    570@SiO 2  (b)                                         EP
                                                                   图 5 为 D 4 /E51 和 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 /DE51-0.8

            2.2   粒径分析                                         的 XPS 谱图,其对应元素质量分数见表 1。
                 图 3 为 570@SiO 2 、C 18 -NH 2 /570@SiO 2 的粒径分布
            曲线。


















            图 3  570@SiO 2 (a)和 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 (b)的粒径
                  分布曲线
            Fig. 3    Particle size distribution curves  of  570@SiO 2  (a)
                   and C 18 -NH 2 /570@SiO 2  (b)

                 由图 3 可知 , 570@SiO 2 的平均 粒径约为
            150 nm , C 18 -NH 2 /570@SiO 2 的平均 粒径约为
            300 nm。C 18 -NH 2 /570@SiO 2 的平均粒径增大归因于
            含有长链烷基的新物质 C 18 -NH 2 的引入,但整体纳
            米粒子大小均一且粒径分布集中。
            2.3  XRD 分析
                 图 4 为 570@SiO 2 、C 18 -NH 2 /570@SiO 2 的 XRD
            谱图。
                 由图 4 可知,570@SiO 2 在 2θ=21.5°处出现了明
            显的尖锐峰,说明此时纳米粒子中以无机组分为主,
            呈现为无机 纳米 SiO 2 晶体结构; 而 C 18 -NH 2 /
            570@SiO 2 则在 2θ=23.6°处出现了较宽的弥散峰,说
            明 C 18 -NH 2 的引入使 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 有机组分增                 a—全谱;b—C 1s;c—Si 2p
                                                                     EP
            多,C 18 -NH 2 /570@SiO 2 属于无定形结构,结构偏向               图 5  D 4 /E51 和 C 18 -NH 2 /570@SiO 2 /DE51-0.8 的 XPS 谱图
                                                                                    EP
                                                               Fig.  5  XPS  spectra  of  D 4 /E51 and  C 18 -NH 2 /570@SiO 2 /
            于有机硅树脂。                                                  DE51-0.8
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