Page 42 - 《精细化工》2020年第7期
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·1324· 精细化工 FINE CHEMICALS 第 37 卷
其中,σ 表示符合正态分布的孔径分布的标准偏差; 架的要求,其对于软水凝胶类等干燥后孔结构会坍
k 表示色谱峰的第 k 个力矩;erfc 表示 erfc 函数。 塌的介质来说具有重要意义。因此,ISEC 法在阐明
此时,色谱峰的第一绝对力矩、第二和第三中 层析介质的色谱行为和孔径结构测量方面有良好的
心力矩分别表示为: 发展前景。可将 ISEC 用于多种湿态条件下使用的
1 n p e r m p e r m K S E C (30) 多孔物质,如催化剂等;也可将 ISEC 同其他方法
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2 2n perm perm K SEC (31) 联合,研究多孔介质干态和湿态条件下结构差异;
可用于开发高效准确经济的孔径检测技术。
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3 6n perm perm K SEC (32) ISEC 测定介质孔径分布的缺点是:
K SEC 与孔形状相关,对于 μ 1 的计算,应使用 (1)ISEC 虽然可以测试色谱介质的孔径分布,
m e m 。如果 =1,孔为狭缝形;如果 =2, 但是并不能通过计算得到色谱介质孔隙的几何形状 。
[2]
p
孔为圆柱形;如果 =3,孔为圆锥形或球形。第 2 (2)ISEC 不能直接测得色谱介质的孔隙连通
个中心力矩可以用 m e 2m 计算;第 3 个中心力 性,而孔隙连通性是了解溶质传输的重要参数 [15] 。
p
矩可以用 m e 3m 计算。由于介质的实际孔径结 (3)虽然 ISEC 不要求高压,但是若遇到耐压
p
构很复杂,因此,这里的孔隙形状为假设形状。 能力差的材料,可能会影响测试结果,因此,需要
2.1.2 ISEC 优缺点 考虑色谱柱的压力问题。
ISEC 测定介质的孔径分布有以下优点: (4)由于 ISEC 测定介质孔径分布所用的标准
(1)ISEC 的孔结构信息在湿态条件下测得,测 物是葡聚糖和聚苯乙烯,但实际应用中分离的是蛋
试条件更接近色谱介质的实际使用条件,与干态条 白大分子和病毒颗粒,两者之间会存在一定偏差。
件下所测得的结果相比误差更小。 ISEC 的不足之处可以通过其他的孔径结构测
(2)与压汞法和氮气吸附法相比,ISEC 的测试 定方法弥补。结合 ISEC 法与 SEM、X 射线或电子
条件更加温和,不需要高压或者低温干燥的环境, 计算机断层扫描技术表征介质孔结构,能够清楚地
能够保持色谱介质结构的完整性 [32] 。 得到孔隙网络的三维结构及其连通性 [33] ,若将葡聚
(3)ISEC 操作方便,除了色谱系统之外,不需 糖(或聚苯乙烯)分子大小通过模型与蛋白质尺寸
[3]
要额外的设备 。 相关联,则能够弥补以上不足。
(4)使用 ISEC 来表征色谱介质可以很好地显 2.2 其他介质孔径结构测定方法
示出孔径分布的变化 [15] 。 测定色谱介质孔径分布的方法有气体吸附法、
(5)与压汞法相比,ISEC 在测试介质孔径结构 压汞法、小角 X 射线散射法和电镜观察法 [34] ,其中
时所设定的假设较少,且 ISEC 测试的精确度较高 [15] 。 以氮气吸附法和压汞法最为常用。作者对以上几种
ISEC 满足精确度高、湿态下测量、无损介质骨 方法的原理及优缺点进行了总结,见表 1。
表 1 其他孔径结构测试方法
Table 1 Other methods for testing pore structure
方法 原理 优点 缺点 参考文献
氮气吸附法 一定条件下,被测介质表面对氮气进行可逆的 不改变材料孔结构;材料易 检测范围较窄,只能测定小孔 [2],[31],
[34-36]
物理吸附,根据一定压力下的平衡吸附量,通 得,成本低,操作简单 和中孔范围的孔隙;检测状态为
过 Kelvin 方程计算得出孔结构参数 干态,不适用于生物软凝胶介质
压汞法 汞对大多数固体具有不润湿性,向汞施压使其 与其他方法相比,该法测量 存在“墨水瓶”效应,存在测 [4], [17],
[23],
(MIP) 进入介质孔隙中,随压力均匀增加,汞不断进 周期短,能够较快得到结 得的小孔隙体积较大和大孔隙 [37-40]
入更小的孔,压力值与介质孔径尺寸和进入孔 果;可测孔径范围覆盖广, 体积较小的现象;仅限于测量
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隙中汞的体积相关。假设介质孔为圆柱孔,施 能够测量 1~1×10 nm 范围 室温下的干燥固体样品的孔径
加压力与孔隙半径呈反比关系,利用 Washburn 内的孔;可访问数据库丰富 结构;过程中的施压对所测样
方程可以将进入孔隙中的汞体积对压力的曲 品的孔隙网络有破坏性
线转化为孔隙体积对半径的曲线,以此得到孔
径分布结果
X 射线小角 该法应用多孔材料骨架与孔之间的电子密度 对干态和湿态材料同时适 对于孔径排列不规整的材料, [34], [41]
散射法 差进行表征。当用一束极细的 X 射线照射样 用;能够表征封闭孔的孔径 该法不适用
(SAXS) 品时,如果样品的内部存在纳米级别的密度 结构
差,则在原光束附近会出现散射现象
电镜观察法 主要通过 SEM 和 TEM 直接观察介质的孔径大 能够直观地观察到介质的 仅能 得到材料结构 的局部信 [42-43]
小和骨架结构 形貌和孔结构形状 息,而材料整体的孔结构信息
有限